iPhone 6 Plus存在嚴(yán)重質(zhì)量問題 恐將大規(guī)模召回
時(shí)間:2014-11-04 16:31:51
- 來源:驅(qū)動(dòng)之家
- 作者:liyunfei
- 編輯:liyunfei
本身供應(yīng)就不多iPhone 6 Plus接連爆出問題,這次又有新的事情發(fā)生。
臺(tái)媒、韓國給出的最新報(bào)道稱,iPhone 6 Plus存在質(zhì)量上的問題,其會(huì)頻繁死機(jī),可能是使用的TLC NAND存儲(chǔ)器控制IC的問題。
報(bào)道中強(qiáng)調(diào),蘋果為了節(jié)省成本,使用了TLC NAND存儲(chǔ)器控制,雖然存容量更多,但是讀取/寫入的速度比較慢。
之前已經(jīng)有不少果粉在蘋果的官方論壇表示,自己的iPhone 6 Plus送修多次,最夸張的一位送修了4次依然沒有解決問題。業(yè)內(nèi)人士指出,這很可能是iPhone內(nèi)部NAND Flash控制的IC品質(zhì)瑕疵所導(dǎo)致。
如果這是真的,那么蘋果或?qū)⒁虼诵即笠?guī)模召回。

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